IMS IMPACT 600 Полупроводники - Приборы для метрологии Горячая Сделка

Год: 2005

- Регулярная калибровка каждые 2 года. - Регулярное обслуживание в течение 1 года. - В очень хорошем состоянии для устройства 18-летней давности. - Последняя калибровка 13.04.2022. Измерительная система/программное обеспечение/аппаратное обеспечение Головка датчика с электроприводом RENISHAW: PH10T/TP20 Программное обеспечение: Virtual DMIS версии 5.0. ПК: Интел Пентиум 4 500 МБ оперативной памяти Жесткий диск 80 ГБ Windows XP Профессионал 19-дюймовый монитор

5 100 €

Посмотреть продукт

CZ Чешская Республика


Olympus IX70 Полупроводники - Приборы для метрологии

Год:

Инвертированный контрастный флуоресцентный микроскоп Olympus IX70 Фиксированная бинокулярная насадка U-BI30 Пара окуляров WHN10x/22 (один регулируемый). Фиксированный столик с опцией правостороннего коаксиала. Цели: Фазово-контрастная флуоресценция на больших рабочих расстояниях. 6. Разместите насадку с 5 целями: CPlanFl 10x/0,30 PhCUPlanFLN 4x/0,13 PhLLCPlanFL 20x/0,40 LCPlanFl 40x/0,60 Ph2 с корректирующим воротником LUCPlanFL 40x/0,60 с корректирующим воротником Два порта для камеры — один для цифровой зеркальной …

Sensofar PLU-NEOX 3D оптический профилометр и система контроля стентов

Год: ~ 2012

3D-оптический профилометр нанометрового измерения с использованием конфокальной, интерферометрической технологии и технологии изменения фокуса SENSOFAR 3D PLU-NEOX с моторизованным столиком X-Y включает в себя изолирующий стол Kinetic System Inc. D120010 Решение для обеспечения и контроля качества, а также исследований и разработок, разработанное для скорости. 3D-профилирование с точностью до нанометра с помощью 3 оптических технологии и возможность измерения гладких и блестящих поверхностей. …

BUEHLER BETA 49-5102-230 Двойной шлифовально-полировальный станок с регулируемой скоростью и векторной головкой

Год: 2008

BUEHLER BETA - Двойной полировальный станок с регулируемой скоростью и векторной головкой Power Head Metallurgical Sample Preprep Полировальная машина Buehler подходит для микроскопии, например, для определения размера зерна и других структурных анализов. комбинация основания с переменной скоростью и головки с настройкой нагрузки позволяет выполнять автоматическую полировку металлургические образцы, подходящие для микроскопии, такие как размер зерна и другие структурные анализы. Металлургический …

Jeol JFC-1600 Автоматическая машина для тонкого покрытия

Год:

Автоматическая машина для тонкого покрытия Эта установка для нанесения покрытий, состоящая из основного блока и насоса, предназначена в основном для подготовки образцов для СЭМ. наблюдение. Он эффективно и быстро покрывает биологические и другие непроводящие материалы металлами. Функции:  Катод содержит постоянный магнит для создания эффективного тлеющего разряда для распыления.  Помимо тока напыления можно установить давление в камере.  Это …