Показаны 1 - 2 из 2
Год: 2004
Толщиномер Fischerscope X-Ray XDVM-W Тип: XDVM-T7-W Модель системы X-RAY Машина соответствует стандартам CE Год выпуска 2004 Цена по договоренности FISCHERSCOPE® X-RAY XDVM®-W может измерять толщину покрытия и состав сплава в любой системе металлических покрытий, включая покрытия из одного, бинарного и тройного сплава, двойные покрытия со слоем сплава или без него, а также тройные покрытия.Год: 2004
Накладной толщиномер Fischerscope X-Ray XDVM-W Тип: XDVM-T7-W РЕНТГЕНОВСКАЯ модель системы Машина в соответствии со стандартами CE Год постройки 2004 FISCHERSCOPE® X-RAY XDVM®-W может измерять толщину покрытия и состав сплава любой металлической системы покрытия, включая одиночные, двойные и тройные покрытия из сплава, двойные покрытия со слоем сплава или без него и тройные покрытия.